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场发射透射电子显微镜(TEM)

发布时间 :2022年05月09日      阅读量:

生产厂家:日本日本电子株式会社 型号:JEM-F200

主要性能指标:加速电压:20 KV-200 KV

TEM放大倍率:20-2.0 M

STEM放大倍率:200-150 M

背散射电子分辨率:≤1.0 nm@200KV

STEM BF/DF分辨率:≤0.16 nm@200KV

能量分辨率: 优于130 eV 元素分析范围:4B至92U

服务领域:对材料的微观结构、元素成分、化学价态进行观测表征和定量分析

样品要求:

样品不含磁性,一般应为厚度小于100nm的固体;样品在电镜电磁场作用下不会被吸出,附于极靴上;样品在高真空中能保持稳定;不含有水分或其它易挥发物,含有水分或其他易挥发物的试样应先烘干

设备管理员:黄艳萍 联系电话:028-85850992,15756250828




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