生产厂家:日本日本电子株式会社 型号：JSM-7610F

主要性能指标：二次电子像分辨率:0.8 nm（加速电压15 kV），1.0 nm（加速电压1 kV）分析时3.0 nm (加速电压15 kV, WD 8 mm,探针电流5nA)

加速电压:0.1～30 kV，放大倍数：25~1,000,000倍

能谱：有效面积10mm2,元素分析范围: Be4～Pu94

服务领域：

1）观察高分辨的微观结构与形貌；

2）能谱用于材料的微区成分定性、定量分析

样品要求：

试样可以是块状或粉末颗粒，在真空中能保持稳定;样品表面要处理干净；在高真空状态观察，样品应干燥，不含水分、溶剂油脂等挥发物；保护样品观察表面不受损伤和污染；样品的大小应适合在样品台上放置及移动，较大的样品需进行切割，确定好取样部位；不含磁性。

设备管理员：黄艳萍 联系电话：028-85850992，15756250828